電磁兼容測試利器：一文帶你了解TEM小室
2025-04-14 10:53:06 330

2 GHz的橫電磁波（TEM）小室，能夠產(chǎn)生均勻橫電磁場(chǎng)，用于測試小型集成電路，如芯片、無(wú)線(xiàn)通信模塊等。

測試輻射發(fā)射時(shí)，集成電路在小室中發(fā)射的輻射場(chǎng)可以通過(guò)端口使用電磁波接收器進(jìn)行測量。

測試抗擾度時(shí)，通過(guò)小室的輸入端口施加的外部測試信號在小室內導體上方產(chǎn)生TEM測試場(chǎng)。




適用標準及參數



圖片



IEC 61967-2

IEC 61967-2 集成電路電磁發(fā)射測量 150kHz～1GHz 第2部分：輻射發(fā)射測量 TEM小室法；


SAE J1752/3

SAE J1752/3 ?集成電路 TEM/寬帶TEM（GTEM）小室法的輻射發(fā)射測量；TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、寬帶 TEM 小室（150 kHz 至18 GHz）；


IEC 62132-2

IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測量 第2部分：輻射抗擾度測量 TEM小室和GTEM小室法；



規格參數



頻段：DC – 2 GHz


阻抗：50Ω?± 5 %


電壓駐波比：DC-3GHz<1.25


插入損耗：DC-2GHz<1dB


回波損耗：DC- 2GHz>20dB


射頻接口：N型接口


待測電路板尺寸：100×100mm

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